動態(tài)高溫反偏老化測試
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動態(tài)高溫反偏老化測試
高壓脈沖源對關斷器件DS兩端進行脈沖電壓應力測試,并配置熱基板
柵級負關斷電壓設置范圍-0.7~-22V
系統(tǒng)最多可以配置28個老化區(qū)，每個區(qū)最多6個工位
脈沖電壓范圍200~1200V，脈沖頻率范圍5k~100kHz，占空比40%~60%，可單獨配置成100%
脈沖電壓上升壓擺率≥50V/nS
關閉動態(tài)測試，測試靜態(tài)反偏漏電，漏電檢測能力0.1uA~30mA
可生成DS電壓、漏電數(shù)據(jù)和熱板溫度數(shù)據(jù)報表
上一個：
動態(tài)高溫高濕高壓老化測試
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動態(tài)高溫柵偏老化測試